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卡尔蔡司场发射扫描电子显微镜
| 仪器设备中文名称： | 卡尔蔡司场发射扫描电子显微镜 | 仪器设备英文名称： | Carl ZEISS Field Emission Scanning Electron Microscope |
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| 仪器所属类别： | 电子光学仪器>扫描电镜 | 仪器所在地区： | 未知 |
| 是否通过认证： | 是 | 仪器图片： |  |
| 仪器型号规格： | SUPRA 55 VP | ||
| 仪器数量： | 1 | ||
| 仪器状况： | 正常在用 | ||
| 生产厂商： | 蔡司 | ||
| 产地国别： | 德国 | ||
| 单价（万元）： | 0 | 所在单位： | 包钢集团矿研院（有限责任公司） |
| 启用日期： | 2012年8月 | 所在试验室名称： | 地质室 |
| 收费标准： | 通讯地址： | 包头稀土高新区曙光路16号包钢研发基地 | |
| 填表更新日期： | 2018-03-05 00:00:00 | 所在地邮编： | 014030 |
| 仪器联系人： | 孟文祥 | 联系人电话： | |
| 联系人电子邮件： | |||
| 知名用户： | |||
| 应用成果： | |||
| 主要附件： | 1.HERZ扫描电镜专用主动式AVI减震台（AVI-400M/LP Plus）； 2.卡尔·蔡司光电联接成像系统（Axio Imager自动扫描载物台/ZEISS Digital Camera AxioCam MRc 5高清彩色摄像头/Axio Scope A1 pol/Stemi 508/Adapter plate CorrMic）； 3.金武士（KINGCHEVALIER）UPS不间断稳压电源（VT-11006GS 8h）； 司特尔（STRUERS）高品质制样系统（Tegramin-25）。 | ||
| 主要技术指标： | 分辨率：0.8nm @15kV；1.6nm @1kV；2.0nm @30kV（VP） 放大倍数：12~1,000,000X 加速电压：0.02~30kV 探针电流：4pA~20nA 镜筒：第三代高性能GEMINI 样品舱：330mm(φ)×270mm（h） 样品台：5轴优中心全自动（X=130mm；Y=130mm；Z=50mm；T=-3~70°；R=360°连续旋转） 探测器：Inlens二次电子探测器/E-T二次电子探测器/4Q BSD背散射电子探测器 操作系统：基于Windows XP的SmartSEM操作系统，含控制手柄套件。 | ||
| 仪器功能及应用范围： | 可应用微观地质研究，对研究对象进行微观表面形貌、结构、成分及元素分布，晶体学特征综合研究，尤其对于“新、贵、细、微”的矿物、材料等。结合能谱仪，可对检测对象进行点、线、面分析、定性-半定量成分分析及实时微区成分分析；利用EBSD技术可提供测试点的晶体对称性、晶体取向、晶体完整性及晶格常数信息。亦可进行金属材料（钢铁、冶金、有色、机械加工）和非金属材料（化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维）等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行微观形貌、组织、成分观察分析、材料断口分析和失效分析等。 | ||
